隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。

　　

　　PCT高壓加速壽命試驗機的產品特點：

　　1、具有自動加水功能并且在試驗過程中水過低時自動補水；

　　

　　2、試驗過程自動運轉至完成結束，使用簡便；

　　

　　3、溫度控制：LED數字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯示；

　　

　　4、計時器：LED數字型計時器，當鍋內溫度到達后才開始計時以確保試驗*；

　　

　　5、精準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內壓力與相對溫度；

　　

　　6、運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到最佳蒸氣質量；

　　

　　7、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長；

　　

　　8、箱內經拋光處理經久耐用、美觀大方；

　　

　　9、鍋內安全裝置：鍋門若未關緊則試驗機無法啟動；

　　

　　10、安全閥：當鍋內壓力超過最大工作值時自動排氣泄壓；

　　

　　11、雙重過熱保護裝置：當鍋內溫度過高時，機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源；

　　

　　12、ABS材質制成的門可防止操作人員接觸湯傷。